產品詳情
簡單介紹：
華測儀器生產的電子材料測量離子遷移評估系統是一種信賴性試驗設備。通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀態，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移的影響。
詳情介紹：
電子材料測量離子遷移評估系統
參數規格
技術指標
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
環境試驗箱（可定制）
恒溫試驗箱
型號：HC-80
溫度范圍：RT~＋100℃
內部容積（L）：80
型號：HC~512
溫度范圍：RT~＋200℃
內部容積（L）：512
迷你高低溫環境箱
型號：HC-35
溫度范圍：-40~＋100℃
內部容積(L)：35
型號：HC-70
溫度范圍：-70~＋200℃
內部容積（L）：70
應用領域
電子材料：印BGA、CSP等精細節距IC封裝件；
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、高密度封裝的材料；
有機半導體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
