產品詳情
簡單介紹：
華測儀器生產的表面電位衰減測試系統，用于評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布。
詳情介紹：
表面電位衰減測試評估系統
產品優勢
1.高壓極化與控制
支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負載調整率≤0.5%，穩定性≤0.1%/h，確保極化過程穩定可靠。
控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度可調電極箱體，滿足復雜環境模擬需求。
2.高敏感測量與快速響應
電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應，準確捕捉瞬態電位變化。
配備專用采集卡與中文分析軟件，自動提取陷阱分布參數，一鍵生成衰減曲線及深度分析報告。
3.電極配置與集成化設計
提供銀/黃銅材質針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態可調，適配不同樣品形態與測試場景。
集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊，大幅提升實驗效率與重復性。
4.穩定性與防護性
電壓調整率≤0.1%，溫度系數≤0.1%/℃，確保長時間測試數據一致性；輸出電流限制≤1 mA，符合高壓操作防護標準。
產品參數
1.充電電源：±30 kV
2.加熱臺溫度范圍：室溫~ 160 ℃
3.控溫精度：± 0.2 ℃
4.輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
5.額定輸出電壓：0～+30kV
6.額定輸出電流：≤ 1 mA
7.溫度系數：≤ 0.1 %/℃
8.測量范圍：0 ~ ±10 kV
9.穩定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
10.極化電極：針、柵、板電極
11.電極材質：銀或黃銅
產品應用
1.絕緣材料研發
2.功能薄膜分析
3.半導體器件優化
4.科研與教育
5.電力設備質檢
