產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
華測儀器生產(chǎn)的電熱老化試驗平臺在材料小型輕量、高密度封裝趨勢下，結(jié)露、吸濕、電場等導(dǎo)致的絕緣**及離子遷移問題突出，長期電化學(xué)腐蝕平臺可通過連續(xù)試驗，評估老化腐蝕引發(fā)的壽命及絕緣電阻劣化問題。
該試驗系統(tǒng)能模擬各類工業(yè)制品、零部件及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸中，受高壓伴隨低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫變、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響，測試其功能、性能及壽命的完整性與可靠性。
詳情介紹：
電熱老化試驗平臺（長期耐腐蝕）
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.節(jié)能效果超過40%，制冷能力提高6%
2.溫度/濕度控制能力好
3.設(shè)備穩(wěn)定
4.高壓隔離系統(tǒng)、
5.提供選購觀察窗能力，保護隱私
6.實時監(jiān)控測試
7.動態(tài)補水設(shè)計
8.保護電源
9.模塊化
10.標配RS232/RS485、標準的MOUDSUS-RTU協(xié)議
產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品型號：HCQD-4
通道數(shù)：4通道（可定制）
電源輸出范圍
電壓：0~2000V
電流：0~1A
功率：1200W
電源調(diào)解率
電壓：0.1%F.S
電流：0.1%F.S+50mA
電源規(guī)格：3相 5線制 A C 380V±10% 50Hz
保護功能：過壓保護，過流保護，短路保護，過溫保護
散熱方式：采用PWM調(diào)速風(fēng)機、風(fēng)冷
腐蝕時間：2個月
被測物：標準樣材、異性件（夾取方式）
箱內(nèi)尺寸：1000mm×1000mm×1000mm（W×H×D）
