-
新品推薦
-
多通道電流矩陣模塊
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
壓電材料 應(yīng)變測(cè)試儀
-
表面電位衰減系統(tǒng)
-
高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流...
-
絕緣電阻劣化（離子遷移）...
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
高壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
絕緣電阻率測(cè)試儀
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
探針臺(tái)
-
退火爐
-
冷熱臺(tái)
-
高壓功率放大器
-
鐵電分析儀
-
多通道電流矩陣模塊
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
鐵電分析儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化（離子遷移）...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測(cè)...
-
絕緣材料測(cè)試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
烘箱適用范圍
烘箱主要用戶(hù)半導(dǎo)體光刻工藝中硅片表面改性；增加光刻膠對(duì)硅片的黏附性。
詳情介紹：
YES HMDS 烘箱
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
烘箱主要用戶(hù)半導(dǎo)體光刻工藝中硅片表面改性；增加光刻膠對(duì)硅片的黏附性。
技術(shù)參數(shù)
基片尺寸：支持2、3、4、6、8英寸基片及破片
溫度范圍：RT～160℃
溫度精度：＋/-1℃@100℃
加熱時(shí)間：30min @RT~160℃
