產品詳情
簡單介紹：
鐵電薄膜材料電容電壓測試裝置由華測儀器生產，有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，可廣泛地應用于各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器等研究。內置HuacePro測試軟件，操作友好使用便捷，在不改變樣品連接的情況下就可執行電滯回線、脈沖、漏電流、IV和CV測試，可選配件也可實現壓電、熱釋電、TSDC、電介質充放電、介電溫譜、高低溫電阻等測量功能。
詳情介紹：
鐵電薄膜材料電容電壓測試裝置
測試功能（可選）
動態電滯回線測量-DHM泄漏電流測量-LM
CV測量-CVM
疲勞測量-FM
保持力測量-RM
印跡測量-IM
脈沖測量-PM
靜態電滯回線測量-SHM
擊穿電壓測量-BDM
壓電測量-PZM
熱釋電測量-PYM
熱刺激測量-TSDC
介電溫譜測量-DTS
高低溫電阻測量-TIR
充放電測試-ESD
產品參數
輸出范圍：±100V或±200V，可擴展至10kV可定制內置放大器電壓：頻率：1MHz；電流：1A
內置±100V和±200V兩種放大器
準確性：0.5%或更高
脈沖寬度(PUND)下限：500ns
上升時間下限：200ns
脈沖寬度上限：低至1μs，高可達15us
區域分辨率上限：52.6mC
遲電滯回線頻率上限：270kHz
模擬輸入通道:高達40MS/s，±10V(16位)
測試電容范圍上限:1nF(與測試頻率有關)
輸出阻抗:10Ω
16位任意波形發生器輸出
可外接高壓放大器（可外接20kV高壓放大器需配置高壓防護模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4kV，10kV，20kV
應用領域
主要應用于材料科學領域，?特別是電子材料電特性參數的測量，研究和測試各種材料的電性能。
